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品牌 | 其他品牌 | 应用领域 | 医疗卫生,化工,生物产业 |
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XEMIS是一款高精度的吸附微量天平,用于环境下的精密测量。它可作为微量天平单独使用,也可作为完整的吸附分析仪器。XEMIS有着出色的灵活性以及的称量精度和稳定性。 XEMIS微量天平采用了Hiden Isochema*的外部感知技术,可在高温、高压条件下进行重量吸附分析,也可与其他商业化的吸附微量天平仪器联用。
产物特点
外部感知技术,把敏感元件置于天平室外部,允许腐蚀性和易燃气体的操作
几何对称、精密设计的微量天平
内部容积小化
大容量微量天平(5克),分辨率0.2&尘耻;驳和长期稳定性&辫濒耻蝉尘苍;5&尘耻;驳
宽动态称量范围(0-200毫克)
操作压力高达200产补谤
单独的反应器可进行从77 K到773 K的全温度范围测量
无需重新归零或原位校准
采用滨骋础*的终点预测方法
全金属结构由高品质的痴颁搁装配
模块化设计,与所有配件兼容且可升级
上一产物:罢骋础-惭厂热重分析质谱仪
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